電子封裝金錫電鍍和電鍍檢測儀器開發 Electronic Packaging Gold Tin Electroplating and Development of Electroplating Testing Instrument Research
本報告介紹採用脈衝電鍍的技術獲得金錫(AuSn20)共晶鍍層的合金共沉積過程機理,具體實施過程,及產品應用驗證。並將這一產品應用于高功率晶片的散熱和氣密性封裝中。同時,介紹自主開發的電化學儀器,採用新型的CSWV技術替代傳統的CVS電化學鍍液添加劑分析儀器,解決高端電子電鍍時,很多鍍種的添加劑含量無法快速檢測的難題。另外,採用Tafel和微電極聯合技術,解決連接器端子高速電鍍金時,無法快速判斷鍍金層鹽霧試驗效果,從而達到節省金的目的。同時介紹,“高標電鍍諮詢服務”搭建多家鍍液公司與電鍍工廠之間合作的“橋樑”作用。
ENIG/ENEPIG 技術在先進電子製造中的機遇 Opportunities of ENIG/ENEPIG Technology in Advanced Electronics Manufacturing
高端電子製造日趨高精密,高集成,高功能化。化鎳金/鎳鈀金以其工藝可控性、極佳均勻性、優異可靠性而廣泛應用于高端電子製造,特別是應用於精密印製線路板,半導體與積體電路封裝,穿戴電子, 通訊電子以及5G,6G特殊新材的表面金屬化。 化鎳金/鎳鈀金工藝中至關重要的特種材料目前被安美特、麥德美-樂思、上村化學等國際巨頭壟斷。
PCB填孔鍍銅添加劑的合成與性能研究 Synthesis and Performance Research of Copper Plating Additives Used for PCB Microvia Filling
在酸性硫酸鹽鍍銅體系中,通過多種功能性添加劑的複配,調控微孔內外沉銅速度,最終實現對微盲孔的“自下而上”填充是目前PCB板孔金屬化的主流技術。本文以加速劑與整平劑為研究物件,在綜述已報導的添加劑分子結構特點的基礎上,設計合成新型的加速劑與整平劑分子,並對其電化學行為、填孔性能進行系列研究。
導電互連化學鍍技術 Electroless Deposition Technology for Electrical Interconnections
對化學鍍技術的原理和優勢,以及化學鍍技術在PCB/載板導電互連、晶片先進封裝凸點、重佈線層、矽通孔(TSV)/玻璃通孔(TGV)互連、鍵合、晶片內導電互連、電極集流體等製造中的應用與研究進展進行總結綜述,並介紹了課題組化學鍍活化劑、化學鍍加成法製備導電線路、化學鍍製備電極集流體等方面的研究工作。
合作研究推進鎳基電沉積技術在高侵蝕和高溫應用中的發展 Collaborative Research to Advance Nickel-Based Electrodeposition for High-Erosion and High-Temperature Applications
(暫未提供中文演講題目) Good Practices in Mechanical Polishing Before More Precise Surface Finishing and Advanced Coating for Automotive and Watches Industries
鋁表面處理的發展與前沿 The Development and Frontier of Aluminium Surface Treatment
基於高附著力促進層的玻璃通孔全濕化學金屬化 All-Solution-Processed Metallization of Through Glass Vias (TGVs) with a High Adhesion Promoting Layer (APL)
玻璃因其光學透明性、高機械強度、優異的電絕緣性和耐化學腐蝕性,成為積體電路封裝、光電系統集成、微機電系統(MEMS)、微波/毫米波天線、生物微流控等眾多應用領域中極具吸引力封裝基材或轉接板材料。玻璃基材表面“共形化”金屬化是上述產品應用功能實現的前提與基礎。本報告將介紹一種同時具有“粘附促進”和“自催化活性”的玻璃材料表面附著力促進層製備技術,基於該技術可實現高徑深比(>1:10)TGV玻璃轉接板通孔及表面的全濕化學法高附著力銅層製備。
卷對卷連續高精度選擇性光刻膠電鍍和高度可靠的棕色氧化技術 Roll-to-Roll Continuous High-Precision Selective Photoresist Electroplating and Highly Reliable Brown Oxidation Technology
1. 探討卷對卷連續高精度選擇性光刻電鍍技術,提高電鍍的精度和選擇性; 研究高可靠性棕色氧化技術,增強材料的抗氧化性能和穩定性,以滿足電子行業對高性能封裝材料的需求。 2. 分析該技術在高密度蝕刻引線框架應用中的優勢和挑戰,包括提高生產效率、降低成本、改善產品品質等方面的優勢,以及解決技術難題和優化工藝參數等。 3. 對未來的研究方向進行展望,為該領域的進一步發展提供參考和指導。 通過本研究,期望為半導體封裝材料行業提供更先進、可靠的技術支援,促進電子行業的發展。